Testeri leteće sonde i testeri u krugu su veoma napredna i skalabilna rešenja. Fliing Scorpion FLS980Dki »Ultimate Probing Machine« je dvostrani sistem pune funkcije koji se može konfigurisati sa do 22 leteće sonde zatvorene petlje sa rezolucijom ±0,1 mikrona i programabilnim uglom sonde od +6º do -6º stepeni. Ima široke mogućnosti električnog testiranja, uključujući analogni (do GHz opseg). Omogućava digitalne, mešovite signale i testove skeniranja granica, kao i naprednu optičku i termičku inspekciju koja olakšava i obrnuti inženjering. Podrška za ploče do 1050 k 640 mm.
4.0 Tester ploča i sistema
DFT na ploči (dizajn za testabilnost) i analiza pokrivenosti testom. Procena pokrivenosti testom. Pokrivenost testom Merenje.
Sistem upravljanja kvalitetom i elektronskim montažama.
ATS za baterije, kondenzatore visokog kapaciteta, solarne ćelije, invertore, punjače baterija, LED i LED napajanja, transformatore.
AOI rešenje za predviđanje zasnovano na veštačkoj inteligenciji (AI). Patentirana optička glava visoke rezolucije i visoke preciznosti. Ekstremno smanjeno vreme programiranja. Moderan SV, zasnovan na modularnosti.
www.delvi.tech Prezentacija kompanije 3D Aton AOI 3D Horus AOI
ATE sistemi za testiranje, rešavanje problema i popravku PCB-a, namenjeni za odbranu, transport i uopšte podršku i održavanje elektronske opreme za kritične aplikacije.
Upravljanje zastarelošću elektronskih kartica i dupliranje zastarelih elektronskih ploča, gde je potrebno produžiti vek trajanja opreme u radu.
Testni sistemi za osiguranje kvaliteta u proizvodnji elektronike Nove metode da se ono što izgleda neproverljivo učini proverljivim. Inovativni Fliing Probers, najnovija generacija testera u krugu.
Alati za programiranje u sistemu Flash i programabilne logike; testovi ploče i sistema (std IEEE-1149.1 i noviji) sa integracijom sa svim glavnim ATE proizvođačima; otklanjanje grešaka u sistemu, verifikacija prototipa PCB-a, proizvodnja i godišnje održavanje. „Test pri brzini“ preko FPGA μP.
AOI ATE rešenja za SMT, DIP, LED, Touch Panel. Inspekcija prvog artikla (FAI) AOI plus automatsko sondiranje RC merenja do 01005 (Imperijalno).
Dekodiranje protokola i rešenja za testiranje PHI sloja na T&M opremi. Implementacija inovativnih i sveobuhvatnih dekodiranja protokola, kao i rešenja za testiranje PHI sloja koja obuhvataju segmente serijskih podataka, telekomunikacija, automobilske i odbrambene elektronike.
Najbrže ICT funkcionalne platforme pružaju proizvođačima elektronike pouzdano testiranje visokog kvaliteta i velikog obima za najnovije tehnologije sklopova štampanih ploča (PCBA) koje se koriste u automobilskoj, industrijskoj, računarskoj, potrošačkoj, komunikacijskoj i odbrambenoj industriji. Strukturni i funkcionalni test pokriva defekte u proizvodnji, komponenti, procesu i performansama za analogne, digitalne i mešovite signalne uređaje visokih performansi. Najbolje za proizvode visoke pouzdanosti i/ili visoke složenosti.
TestStation Duo, Multi-Site, High Pin Count (do 15,360 pinova), Inline ili Offline.